Nuestra actividad «SOCIAL ACTIVITY MATTER» busca apoyar a la Fundación Amigos de los Niños con Leucemia y Cáncer (FANLYC) en su evento anual: RELEVO POR LA VIDA además de promover la actividad física grupal, la salud individual y la comunicación entre profesionales y estudiantes de IEEE Sección Panamá de igual forma inimos este evento al IEEE DAY. Relevo por la Vida es la carrera más grande del país, simboliza la participación comprometida de la comunidad, cuyos fondos son invertidos en el tratamiento de muchos niños y niñas con leucemia y cáncer en Panamá. Actividad exclusiva para miembros y voluntarios IEEE de Panamá con cantidad limitada de personas. Evento organizado por la Sociedad de Ingenieros en Medicina y Biología (EMBS), Universidad Latina de Panamá en conjunto con los embajadores IEEE DAY de Computer Society Sección Panamá y Women in Engineering (WIE), Universidad Técnológica de Panamá & Sección Panamá. ** La donación voluntaria para participar en el relevo por la vida puedes realizarla directamente con FANLYC (al registrarte por tu cuenta es recomendable que selecciones al equipo de FANLYC y es importante mostrar comprobante de participación para este evento) o puedes registrarte con nosotros.** Serán organizado tres eventos al aire libre con los cuales se realizará una participación activa en el RELEVO POR LA VIDA 2021 a través de caminatas o recorridos sobre ruedas (bicicletas, patines, patinetas…) por las vías más adecuadas para preservar el ambiente y realizar actividades físicas cómodamente. Los eventos serán realizados para las siguientes fechas: Domingo, 05 de Septiembre 2021; Domingo, 12 de septiembre 2021 y el 19 de Septiembre 2021 en horarios matutinos o meridianos. NO ES OBLIGATORIO ASISTIR A CADA UNA DE ELLAS, SU PARTICIPACIÓN QUEDA A CRITERIO Y DISPONIBILIDAD PROPIA. Agenda: I. Domingo, 5 de Septiembre 2021 – «Domingo de Bicicletas» II. Domingo, 12 de Septiembre 2021 – «Caminata Ecológica» III. Domingo, 19 de Septiembre 2021 – «Tour por la calzada de Amador» Virtual: https://events.vtools.ieee.org/m/280157