Name: EDS/SSC – Proceso de generación de defectos espacio-temporales en pilas de MOS de HfO2 irradiadas: mecanismos correlacionados versus no correlacionados
Start: 2022-12-29T11:00:00+00:00
End: 2022-12-29T12:00:00+00:00
Location: Virtual: https://events.vtools.ieee.org/m/339344

Reunión mensual del Directorio de IEEE RAS Chile Centro

Nov 29

5:30 pm - 6:30 pm

Reunión mensual del Directorio de IEEE RAS Chile Centro
Taller de Interacción Humano-Robot 2/2

Dec 1

5:00 pm - 7:00 pm

Taller de Interacción Humano-Robot 2/2
Capacitación WordPress IEEE (1/4)

Dec 3

8:00 pm - 10:00 pm

Capacitación WordPress IEEE (1/4)
Almuerzo y reunión de fin de año

Dec 4

3:00 pm - 11:00 pm

Almuerzo y reunión de fin de año
Curso Machine Learning Aplicado

Dec 5

December 5, 2022 @ 10:00 pm - December 7, 2022 @ 11:00 pm

Curso Machine Learning Aplicado
XVII IEEE Latin-American Summer School on Computational Intelligence (EVIC, http://evic2022.utem.cl)

Dec 12

December 12, 2022 @ 8:30 am - December 14, 2022 @ 6:00 pm

XVII IEEE Latin-American Summer School on Computational Intelligence (EVIC, http://evic2022.utem.cl)
Interacción entre parques eólicos y fotovoltaicos de alta potencia con los sistemas de distribución de plantas mineras

Dec 16

11:30 am - 12:30 pm

Interacción entre parques eólicos y fotovoltaicos de alta potencia con los sistemas de distribución de plantas mineras
IEEE Chile Sur Section Joint Chapter IE13/PEL35 Annual General Meeting 2022

Dec 16

3:00 pm - 5:00 pm

IEEE Chile Sur Section Joint Chapter IE13/PEL35 Annual General Meeting 2022
Webinar – IEEE Volunteering

Dec 19

7:00 pm - 8:00 pm

Webinar – IEEE Volunteering
Reunión mensual del Directorio de IEEE RAS Chile Centro

Dec 27

5:00 pm - 6:00 pm

Reunión mensual del Directorio de IEEE RAS Chile Centro
IEEE Quarter Tech Talk Table Series 8.0

Dec 28

10:00 am - 12:00 pm

IEEE Quarter Tech Talk Table Series 8.0
EDS/SSC – Proceso de generación de defectos espacio-temporales en pilas de MOS de HfO2 irradiadas: mecanismos correlacionados versus no correlacionados

Dec 29

11:00 am - 12:00 pm

EDS/SSC – Proceso de generación de defectos espacio-temporales en pilas de MOS de HfO2 irradiadas: mecanismos correlacionados versus no correlacionados

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