CANELOS: CAD and Nanoelectronics Seminar (Día 2)

Bldg: T, UTFSM, Av. España #1680, Valparaiso, Valparaiso, Chile, 2390123, Virtual: https://events.vtools.ieee.org/m/364938

CANELOS es un evento enfocado en la microelectrónica y su industria, abordando tanto el diseño de circuitos integrados como la automatización y las herramientas de diseño asistido. El seminario se realizará los días 16, 29 y 30 de junio, en el maravilloso campus de la UTFSM en Valparaíso. Serán 3 días que incluyen charlas plenarias, presentaciones y un foro. Los charlistas son académicos y representantes de empresas, varios de los cuales viajarán desde el extranjero. El evento es abierto y gratuito, y busca reunir presencialmente a la comunidad de microelectrónica de todo el país, así como a contactos en latinoamérica. Se trata de una instancia con enfoque educativo, pero también una oportunidad de generar contactos con la academia y la industria. El futuro de la microelectrónica nacional será un tema recurrente en las conversaciones, y también la pregunta que trataremos de resolver durante el foro. Co-sponsored by: AC3E, Departamento de Electrónica de La UTFSM Speaker(s): Dr. Hanh-Phuc Le, Dr. Ioannis Vourkas, Mauricio Briceño, Dr. Filip Maksimovic, Daniel Musciano Agenda: 9:00 - 9:30 -> Bienvenida 9:30 - 10:45 -> Hanh-Phuc Le: "Integrated Power Converter - A Good Design Flow and Useful Techniques". En ingles. 11:00 - 12:15 -> Ioannis Vourkas: "Circuit Design for Memristive Devices - Open Research Fields & Applications". En español. 12:1 5 - 13:00 -> Mauricio Briceño: "Machine Learning for Embedded and Internet of Things". En español. 14:30 - 15:45 -> Filip Maksimovic : "Fully On-Chip Transceiver Integration for Low-Power Wireless Communication". En inglés. 15:45 - 16:30 -> "Allegro Microsystems". En español. 16:45 - 17:30 -> "Microelectrónica en el AC3E". En español. 17:30 - 18:15 -> "Microelectrónica estudiantil en la UTFSM". En español. Bldg: T, UTFSM, Av. España #1680, Valparaiso, Valparaiso, Chile, 2390123, Virtual: https://events.vtools.ieee.org/m/364938