FET100 Taller Básico – Microscopía de Fuerza Atómica

Curso Básico de
Microscopía de Fuerza Atómica
El Capítulo Estudiantil IEEE Electron Devices Society (EDS) del Cinvestav Zacatenco, en colaboración con el Departamento de Ingeniería Eléctrica – Sección de Electrónica del Estado Sólido (SEES), Cinvestav, se complace en organizar este Taller Precongreso sobre Microscopía de Fuerza Atómica (AFM), como parte del 2.º Congreso Multidisciplinario IEEE-Cinvestav (CMIC 2025) y de la campaña global FET100, celebrando los 100 años del transistor de efecto de campo.
El taller está abierto a estudiantes, investigadores y profesionales interesados en la caracterización de materiales, la nanotecnología y la electrónica del estado sólido.
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Objetivos
✅ Conocer los conceptos esenciales de la microscopía de fuerza atómica.
✅ Aprender los modos de operación.
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📚 Programa
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Introducción y teoría básica – 1 hr
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Manejo básico del Software
A) Modo de semicontacto – 1 hr
• Mediciones Kelvin Probe
• Mediciones de dureza
B) Modo de contacto – 1 hr
• Cambio de cantilever
• Alineación del láser y calibración de la punta
• Mediciones en modo contacto
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Tallerista
👤M.C. María Georgina Ramírez Cruz
📧 [email protected]
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¡Cupo limitado!
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Co-sponsored by: Departamento de Ingeniería Eléctrica – Sección de Electrónica del Estado Sólido (SEES), Cinvestav, México
Agenda:
MTM_8-2025 – Schedule
Grupo Horario Duración Actividad
1 10:00 – 13:00 3 h Taller
13:00 – 14:00 1 h Coffee break
2 14:00 – 17:00 3 h Taller
17:00 – 17:20 20 min Coffee break
Room: Laboratorio SIMS, Bldg: Cinvestav, Sección de Electrónica del Estado Sólido, Av Instituto Politecnico Nacional 2508, Colonia San Pedro Zacatenco, Miguel Bernard La Escalera, Ciudad de Mexico, Distrito Federal, Mexico, 07360