Week of Events
Los desafíos de la logística de temperatura controlada
Los desafíos de la logística de temperatura controlada
El Centro de Innovación en Transporte y Logística de la Universidad Diego Portales, en conjunto con el Supply Chain Council Chile, la fundación Conecta Logística, la IEEE Computer Society Chile Centro y el portal SCM Think invitan a la quinta charla del año 2023 del ciclo CITYLOG Presenta: CITYLOG Presenta (2023-V) Título: Los desafíos de la logística de temperatura controlada Expone: (https://www.linkedin.com/in/rguallar/), Ingeniero Civil Industrial (PUC), con experiencia profesional como Gerente General (Americold Logistic), Gerente Supply Chain (SCJohnson). Resumen: La logística de temperatura controlada presenta desafíos únicos y complejos debido a la naturaleza sensible y delicada de los productos que se transportan, como alimentos, productos farmacéuticos y biológicos. Los productos que requieren de temperatura controlada deben ser manipulados y almacenados de manera cuidadosa y controlada para mantener su calidad, seguridad y eficacia. Por tanto, es esencial contar con un proceso logístico confiable y eficiente que garantice la integridad de los productos a lo largo de toda la cadena de suministro, desde el almacenamiento y transporte hasta la entrega al cliente final. En esta charla revisaremos las tendencias emergentes y los nuevos desafíos del área. Fecha: 18 de octubre, 11:30 horas. Lugar: Modo híbrido en el Auditorio del Piso 3, Facultad de Ingeniería y Ciencias, Universidad Diego Portales, Av. Ejército Libertador 441, Santiago y por Zoom. Formulario de inscripción: https://forms.gle/pDcZVS4jJeK76Z1U8 Co-sponsored by: Centro de Innovación en Logística y Transporte, Universidad Diego Portales; Supply Chain Council Chile; SCM Think; Conecta Logística Speaker(s): Rodrigo Guallar Room: Auditorio del Piso 3, Bldg: Vergara, Facultad de Ingeniería y Ciencias, Universidad Diego Portales, Av. Ejército Libertador 441, Santiago, Region Metropolitana, Chile, Virtual: https://events.vtools.ieee.org/m/376637
Spatio-Temporal Defect Generation Process in high/k dielectric layers: Correlated versus Uncorrelated Mechanisms
Spatio-Temporal Defect Generation Process in high/k dielectric layers: Correlated versus Uncorrelated Mechanisms
In this talk, we analyze the dependence of the Weibull slope (β) extracted from TDDB tests on HfO2 MOS capacitors (MOSCAPs) on the initial density of defects artificially induced by carefully tuned micro beam irradiation experiments with different carbon dosages. The consistent experimental trend of reducing β with increasing defect density was reproducible only with physics-based breakdown simulations that considered correlated defect generation in HfO2 and localized damage (partial percolation paths) traces created by the impinging ions. Scenarios of spatially random initial defect distribution and random stressinduced defect generation (in space and time) could not explain the experimental trends, confirming that correlated defect generation does exist in HfO2 thereby altering the conventional understanding of TDDB by quite a bit. Co-sponsored by: Grupo de Microelectrónica, Facultad de Ingeniería, Universidad de la República Speaker(s): Félix Palumbo Room: Laboratorio de Software del IIE, Bldg: Facultad de Ingeniería, Julio Herrera y Reissig 565, Montevideo, Montevideo, Uruguay
Visita Técnica del Capítulo UY-PES-IM a la Central Térmica de Punta del Tigre y al Despacho Nacional de Cargas de Uruguay.
Visita Técnica del Capítulo UY-PES-IM a la Central Térmica de Punta del Tigre y al Despacho Nacional de Cargas de Uruguay.
Visita Técnica a la Central Térmica de Punta del Tigre y al Despacho Nacional de Carga del Sistema Interconectado de Uruguay. Agenda: 8:00 h - Salida del BUS desde el Obelisco. 8:45 h a 10:15 h - Despacho Nacional de Carga (1.30 h). 11:00 h a 13:00 hs - Central Térmica de Punta del Tigre (2 h). 14:00 h de regreso en el Obelisco. Salida BUS: Parque de los Aliados, enfrente del Obelisco. Alado del homenaje a Alberto Candeau., Montevideo, Montevideo, Uruguay